实验室供气方式是采用将气瓶安置在仪器设备的旁边，危险气体的气瓶放置在气瓶柜内。排气采用直接排放到实验室或是通过简易的管道排放到窗外。在实验室的发展过程中，随着实验室仪器设备的增加，实验室内经常是密布着各种各样的管道和气瓶。这样处理既造成了非常大的安全隐患，也不美观。
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?具有较强的抗干扰能力，对环境条件的要求不像激光干涉传感器那样严格，但不如感应同步器和磁栅式传感器的适应性强，油污和灰尘会影响它的可靠性。主要适用于实验室条件下工作，也可在环境较好的车间中使用。?高精度光栅的制作成本高。光栅式传感器在几何量测量领域中多用于测量长度（或直线位移）和角度（或角位移）。具体应用有如下几个方面：?长度和角度的精密计量仪器。如线值计量的工具显微镜、测长仪、比长仪，以及三坐标测量机等；角度计量的分度头、圆转台，以及度盘检验仪等。
实验室的很多设备的运行都需要各种各样的气体供应，同时也会产生废气。如何既安全又方便地解决供排气问题，也是一直以来困扰实验室工作人员的问题之一。
正确的实验室供排气的解决方案是把实验室的供排气看作一个系统。这个系统要考虑到安全性、便利性、日常实验室的管理、气瓶的更换等问题，同时要重点考虑实验室今后的发展，对于特殊气体还要考虑特殊的技术解决方案。
（一）设计标准
1、《工业金属管道设计规范》［GB50316-2000（2008版）］；
2、《工业金属管道工程施工及验收规范》（GB50235-1997）；
3、《现场设备、工业管道焊接工程施工及验收规范》（GB50236-1998）；
4、《乙炔站设计规范》（GB50031-1991）；
5、《氢氧站设计规范》（GB50177-2005）；
6、《氧气站设计规范》（GB50030-1991）；
7、《压缩空气站设计规范》（GB50029-2003）；
8、《深度冷冻法生产氧气及相关气体安全技术规程》（GB16912-2008）。
（二）技术要求
1、气瓶间：
①气瓶间应采用300mm厚实体墙，安装防爆门，设置泄爆窗；
②室内电器设备均应具备防爆功能；
③室应安装排气扇，时刻保持良好的通风状态；
2、供气系统要求采用两级减压的方式进行供气，供气汇流排次减压，气体由15Mpa减压到1.5Mpa以下，再输送到各用气实验室，二级减压器安装在各用气实验室或用气点，方便统一控制通风柜或仪器用气的输入压力，用气终端配有中压球阀和压力指示表，二级减压器对压力进行调整(0.01Mpa)，得到稳定的压力，可以满足仪器对不同使用压力的要求，一、二级减压器均配有压力表，可实时显示当前压力；
3、采用双侧汇流排半自动方式不间断供气，充分满足实验室的使用要求，更换气瓶时，可通过安装在高压软管下面的卡套进行气瓶更换；
4、氢气和乙炔属于易燃气体，应设计气体泄露探测报警装置，并安装阻火器，防止明火回流，易燃与助燃气体敷设应保证足够的安全距离。

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为使用451信号/频谱分析仪测量基频为5MHz的各次谐波的情况，标记报表中给出了基频、二次谐波和三次谐波的频率和幅度。扫频分析功能手动测量谐波根据标记报表我们可以方便的测量出各次谐波与基频信号之间的幅度差，以dB来表示。由于频谱分析仪通常显示对数功率（单位dBm），因此在计算总谐波失真时，需要将相应的幅度量转换成电压。为了方便计算，根据如下推导公式可快速计算总谐波失真。利用方法手动计算得到的信号总谐波失真结果为3.679%。

（三）工程用材
1、管道、球阀、卡套和三通等为316L不锈钢，减压器为高纯气体减压器（不锈钢阀芯），高压软管（连接钢瓶和汇流排）为不锈钢波纹管，在高压软管的进气端，配置单向阀，可以防止更换钢瓶时，软管内的气体外泄，同时避免外界的空气混入气路之中；
2、管道系统：所有的气体管道选用BA级别的316L不锈钢管，在管路上有个过滤杂质和水分的净化装置，使气体在流通过程中不至于被管道系统污染，保证气体的纯度，同时要有明确标示，指示气体的流向；
3、管道的连接：汇流排、终端部分采用卡套连接，便于减压器和阀门的维护管理；
4、终端：在每台仪器之前，配置截止阀和二级减压器（每种气体配置一个）。截止阀用于控制每一个气路的开启与关闭；在仪器需要调整和维修时，能停止任何的仪器的气体供应，减压器用于显示和调整终端的压力。
（四）其它
1、气体管路每间隔1.5m采用管码支架固定，并根据气体管路弯曲的直径，设置合适的支架位置；
2、整个管路安装完毕后，对整个系统做压力测试。参照《工业金属管道工程施工及验收规范》，管路系统在保压24小时后，压力无下降为合格。
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先测试出可控硅的峰值电压，将电线正负极连接至K两极，接地线接至室内主接地上，逐渐升压，测试其漏电流数值。进行漏电测试后，逐渐升压，观测漏电流，当数值超过其额定峰值电压后，可控硅被击穿，但采用此方法可能会破坏其PN结，并且只能测试其是否导通，而不能测试其导通是否良好，故不再采用此法进行测试。摇表测试法用摇表对可控硅进行测量，参照之前使用的漏电检测法。为防止摇表法测试过程中击穿或损坏可控硅，改变摇表操作方法，即要对摇表电压和转速进行控制，两笔端链接K极对其进行测试。