QFN28-0.35-3*3测试座0091TGH用于芯片烧录老炼功能测试
QFN28-0.35-3*3测试座0091TGH用于芯片烧录老炼功能测试
产品价格:¥258.00(人民币)
  • 规格:QFN28-0.35-3*3-0091TGH
  • 发货地:广东深圳
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
  • 免费会员
    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:深圳市鸿怡电子有限公司

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    商品详情
      产品参数
      型号QFN28-0.35-3*3-0091TGH
      封装/规格插件
      间距0.35
      总针脚数28
      圆孔/方孔圆孔
      触头镀层
      工作温度范围-45~155℃
      包装盒装
      认证机构CE
      最小包装量1
      数量1
      封装QFN
      批号以出货为准
      用途老炼老化测试
      应用场景与老化板配合
      芯片尺寸3*3
      品牌ANDK

      QFN28-0.35-3*3-0091TGH芯片测试座
      1.引脚:28 signal Pin 1 GND;
      2.间距:0.35mm
      3.尺寸:3*3mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-45~155℃
      8.Current Rating:1A Max.



      测试座侧视图




      测试座顶部视图,实际结构以图纸为准



      测试座顶部视图,实际结构以图纸为准



      测试座底部视图,实际结构以图纸为准



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