QFN40-0.4-5*5芯片测试座HASTHTOLHTLLCP老化各等级测试加速实验
QFN40-0.4-5*5芯片测试座HASTHTOLHTLLCP老化各等级测试加速实验
产品价格:¥140.00(人民币)
  • 规格:QFN40-0.4(5*5)翻盖老化座
  • 发货地:广东深圳
  • 品牌:
  • 最小起订量:1
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    会员级别:试用会员
    认证类型:企业认证
    企业证件:通过认证

    商铺名称:深圳市鸿怡电子有限公司

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    商品详情
      产品参数
      型号QFN40-0.4(5*5)翻盖老化座
      设备类型Adapter
      类型DIP
      电流额定值1A
      触点电镀Gold
      触点材料BerylliumCopper
      位置/插座QFN40
      功能老化测试
      绝缘材料PEI
      最大工作温度155
      最小工作温度-55
      单位重量0.005
      包装盒装
      最小包装量1
      封装/规格插件
      间距0.4
      总针脚数40 1
      圆孔/方孔圆孔
      触头镀层
      认证机构CE
      数量1
      封装QFN
      批号以出货为准
      品牌ANDK

      QFN40-0.4-5*5翻盖老化座
      1.引脚:40 signal Pin 1 GND;
      2.间距:0.4mm
      3.尺寸:5*5mm
      4.Insulation Resistance:1000MΩ At 500V DC
      5.Dielectic Withstanding Voltage:700V AC @ 1Min
      6.Contact Resistance:≤50mΩ@10mA/20mV(initial)
      7.Temperature:-55~155℃
      8.Current Rating:1A Max.









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